Patents

제 10-1817666 호 센서 보호기능을 가지는 센싱 시스템 및 센싱 시스템의 제어방법
제 10-1902934 호 자석 특성 측정시스템 및 와전류 오차 보상방법
제 10-1976552 호 자성체 특성 분석시스템 및 방법
제 10-2129930 호 착자 방법 및 시스템
제 10-2132268 호 회전자 특성 검사 시스템 및 회전자 특성 검사 방법
제 10-2555684 호 착자 요크 및 착자 요크 제조방법
제 10-2594621 호 착자 시스템 및 착자 방법
제 10-2673798 호 자기식 엔코더의 스케일에 대한 다극 착자 공정을 수행하기위한 착자 시스템, 제어장치 및 그 제어 방법

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Domestic conference

Seung-jae Cho; Pulsed Field Magnetometry: Eddy Current Correction Technique with A Single Pulse (IcAUMS 2018), G11-Magentic characterizations 2018 June 6

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Equipments

자기장
BH curve tracer: MP BH curve tracer (MAGNET-PHYSIK)
Gauss meter: FW Bell 8010 (FW Bell)
NMR meter: PT2026 (Metrolab)
Flux meter: M480 (Lake shore), EF 5 (MAGNET-PHYSIK)
Flux gate: Mag-03MS100/Mag690-1000 (Bartington)
Pulsed field meter
이방화 측정기: M-axis (Matesy)
마그네틱 CMOS viewer: CMOS Magview (Matesy)

전기
내압시험기: TOS9200 (KIKUSUI)
고압 DC 파워서플라이: PAT60-67T (KIKUSUI)
전력계: WT310 (YOKOGAWA)
절연저항계
전자부하: PLZ334W (KIKUSUI)
누설전류 시험기: TOS3200 (KIKUSUI)
파워 앰프: BOP32-12/BOP20-10 (KEPCO power)

전자
LCR 미터: E4980A (KEYSIGHT)
오실로스코프: DL 1640 (YOKOGAWA) 외
멀티미터: 34465A (KEYSIGHT)
신호발생기: 33522B (KEYSIGHT)
표준 전압/전류 발생기: (YOKOGAWA)
Lock-in-amplifier: SR865 (Stanford Research), Model 5150 (Signal recovery)

기타
Interferometer: XL80 (Renishaw)
온도챔버: JMV-040 (-40~180 ℃, JEIO TECH)
열화상 카메라: FLIR-T62101 (FLIR)